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          光學面形檢測
          
	
          


          


          
	
          
        			
          
				
          Nanomefos非接觸式光學面形掃描系統
          
				
          Nanomefos非接觸式光學面形掃描系統
          
								
          分類: 光學面形檢測
          
				
                 可實現對600mm以內的平面、球面、非球面、自由曲面、離軸鏡、柱面鏡等面形進行高精度測量，RMS重復精度1nm以下；
可提供2米...
          
			
          
						
          
				
          APRE激光干涉儀
          
				
          APRE激光干涉儀
          
								
          分類: 光學面形檢測
          
				
          2K╳2K像素分辨率，極速相移動態及載波動態技術，超低的回程誤差和平頂波前技術；
可選配SCI技術測試薄片元件的正反表面波形和厚度、平行度等信...
          
			
          
				
          
	


          
	
          
		
			
            
          
           
          
                  
    
          

          
				
          
			
          
                       
		
          
	
          
	

          

          




          




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