
APRE激光干涉儀
分類: 光學面形檢測
發布時間: 2017-05-14 21:10

2K╳2K像素分辨率,極速相移動態及載波動態技術,超低的回程誤差和平頂波前技術;
可選配SCI技術測試薄片元件的正反表面波形和厚度、平行度等信息;
口徑50mm/100mm/150mm等;
可選配波長調諧激光器。
可選配SCI技術測試薄片元件的正反表面波形和厚度、平行度等信息;
口徑50mm/100mm/150mm等;
可選配波長調諧激光器。
類型
菲索型干涉儀
測試能力
測量面形和透射波前
測試技術
抗振相移干涉
抗振載波干涉
對準系統
2點法對準(十字窗口),校準視場2°
輸出光直徑
4 inch (102 mm)
光學鏡頭直徑
4.25 in (108 mm)
激光光源
穩定 633 nm 氦氖激光
~1mW 激光強度, 可達更高
激光頻率穩定性
<0.0001nm
相干長度
>100 m
偏振
圓偏振
相機分辨率
2044 X 2044
最短曝光時間
9 us
數位
12 bits
圖像分辨率
100 μm 全視場 (檢測器極限)
條紋分辨率
680 載波條紋,1022相移條紋
圖像失真
<0.1% 全聚焦范圍
焦距
±2 米
電腦及軟件
高性能PC, 64位Windows操作系統,REVEALTM軟件
安裝方式
水平 或垂直
附件
兼容業內標準4英寸鏡頭