<noframes id="jdhvd"><dl id="jdhvd"><ins id="jdhvd"></ins></dl>

      <noframes id="jdhvd">

      <form id="jdhvd"></form>

        <form id="jdhvd"><i id="jdhvd"><ol id="jdhvd"></ol></i></form>
          <i id="jdhvd"><mark id="jdhvd"><thead id="jdhvd"></thead></mark></i>

          <output id="jdhvd"></output>

          產品分類

          QQ在線

          下載中心

          Nanomefos非接觸式光學面形掃描系統
          分類: 光學面形檢測  發布時間: 2016-12-07 12:21 

          Nanomefos非接觸式光學面形掃描系統
          可實現對600mm以內的平面、球面、非球面、自由曲面、離軸鏡、柱面鏡等面形進行高精度測量,RMS重復精度1nm以下;
          可提供2米內非球面、自由曲面、離軸鏡測試解決方案

              

              多用途計量工具NANOMEFOS是一臺獨特的計量設備,可以高精度測量非球面和自由曲面光學元件。這種快速、非接觸式測量設備,可測量凸面到凹面、平面到自由曲面以及直徑達600mm的光學元件,且測量不確定度RMS低于15nm。這臺設備的工作方式類似一個巨大的CD播放器:待測元件放置在氣浮主軸上,特制的光學探頭在位移系統的驅動下在元件表面移動。





             


               NANOMEFOS是一臺非接觸式高精度測量非球面和自由曲面的獨特的計量設備。光學探頭具有很高的掃描速度(最高達1.5m/s)和5mm的測量范圍,能夠捕獲非旋轉對稱面的表面特征。分離式碳化硅計量框架結構和干涉測量系統提供了穩定的參考。




          規格
          ? 可測量面形:平面,球面,非球面,離軸、非球面,柱面,自由曲面
          ? 測量范圍:? 600 x 125 mm
          ? 測量元件重量:300Kg
          ? 測量不確定度: < 15 nm RMS
          ? 測量重復性精度:< 1nm RMS
          ? 典型測量時間: < 15 分鐘
          ? 最大斜率:0° 到 90°(柱面到凹面)


          NANOMEFOS優勢
          ? 無需調整元件傾斜和偏心
          ? 絕對形狀測量(包括曲率半徑)

          ? 非球面偏離度無限制,自由曲面偏離度最高至5mm

          ? 可采用螺旋或往復方式測量,以應對不同面形元件

          ? 適合折射和反射元件
          ? 無背面像和鬼像
          ? 可測量形狀、波紋度(中等空間波長)和粗糙度

          上一產品:沒有了
          下一產品APRE激光干涉儀
          欧美大尺度无遮挡a片_日本高清二区视频久二区_久久综合九色综合97婷婷_樱桃bt 磁力天堂